膜厚測定の歴史は電測の歴史といっても過言ではありません。業界に先駆けて電解式膜厚計を開発したことにより、日本の表面処理業界に貢献してまいりました。これからも業界を牽引しお客様の製品品質向上と発展を支えていきます。
1952年 | 資本金2,000,000円にて代表取締役貝原 巌が昭和計器工業株式会社を創立、英国エルコメータ社の日本代理店となる |
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1955年 | 米国コクール社と販売提携極東地区総代理店となる |
1957年 | 米国U・P・A社と販売提携日本代理店となる |
1966年 | 米国コクール社と技術提携しコクール電子化学式鍍金膜厚計の国内組立を開始 |
1969年 | 非破壊式膜厚計ダーメスD-7を開発、製造販売を開始。同時に諸外国へも輸出開始 |
1970年 | 電測工業株式会社に社名変更し、貝原 巌が代表取締役となり、資本金5,000,000円に増資 |
1972年 | 新製品デジタル電子化学式鍍金膜厚計G-7を開発・販売を開始 |
1974年 | 放射線式膜厚計ベータテクノスターを開発・販売を開始 |
1977年 | 渦電流式非破壊膜厚計ダーメスD-10を開発・販売を開始 放射線式膜厚計ベータテクノスターBT-3を開発・販売を開始 |
1978年 | 1月 渦電流式非破壊膜厚計ダーメスD-10Bを開発・販売を開始 5月 放射線式膜厚計ベータテクノスターBT-4を開発・販売を開始 |
1981年 | 12月 放射線式膜厚計ベータテクノスターBT-5開発・販売を開始 |
1982年 | 3月 電解式膜厚計EF-1000を開発・販売を開始 6月 渦電流式非破壊膜厚計ダーメスDS-1、DS-1Pを開発・販売を開始 |
1983年 | 5月 電解式膜厚計G-7、GP-8を開発・販売を開始 6月 スーパーニッケルSN-7を開発・販売を開始 |
1984年 | 6月 蛍光X線式膜厚計EX-8080を開発・発表・試作品展示 12月 蛍光X線式膜厚計EX-8000を開発・販売を開始 |
1986年 | 5月 放射線式膜厚計(コンピュータ式)BTC-55を開発・販売を開始 |
1987年 | 6月 渦電流式非破壊膜厚計(コンピュータ式)DX-100を開発・販売を開始 |
1989年 | 3月 蛍光X線式膜厚計EX-9000を開発・販売を開始 7月 電解式膜厚計(コンピュータ式)GC-01を開発・販売を開始 8月 電磁式(コンピュータ式)MaG-Aを開発・販売を開始 |
1990年 | 4月 資本金20,000,000円に増資 |
1992年 | 1月 株式会社電測に社名変更 |
1994年 | 2月 電解式膜厚計CT-1を開発、販売を開始 |
1995年 | 4月 電解式膜厚計CT-2を開発、販売を開始 |
1997年 | 9月 蛍光X線式膜厚計EX-2000を開発、販売を開始 |
2000年 | 6月 蛍光X線式膜厚計EX-3000を開発、販売を開始 |
2001年 | 4月 渦電流式膜厚計D-20を開発、販売を開始 9月 蛍光X線式膜厚計COSMOS-1Xを開発、販売を開始 |
2002年 | 8月 渦電流式膜厚計DMC-211を開発、販売を開始 |
2003年 | 2月 ベータ線式膜厚計BTC-211を開発、販売を開始 12月 電気抵抗式膜厚計RST-231を開発、販売を開始 |
2004年 | 11月 電解式膜厚計GCT-311を開発、販売を開始 |
2006年 | 5月 COSMOS-2Xを開発、販売を開始 8月 電解式膜厚計 CT-3を開発、販売を開始 8月 渦電流式膜厚計 DS-110を開発、販売を開始 |
2008年 | 9月 電解式膜厚計 CT-4を開発、販売を開始 |
2009年 | 2月 ISO9001認証取得 |
2013年 | 10月 EX-731を開発、販売を開始 |
2015年 | 11月 蛍光X線式膜厚計COSMOS-3Xを開発、販売を開始 |
2021年 | 7月 電解式膜厚計 CT-6を開発、販売を開始 |